X射线荧光光谱仪

X射线荧光光谱仪NEX QC是低成本能量色散X射线荧光（EDXRF）分析仪，用于固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素分析。

作为一款低成本的台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，Rigaku理学NEX QC荧光光谱仪在坚固的包装中提供广泛的元素覆盖，配备易于学习的软件界面，专为工业现场质量控制应用而设计。能够非破坏性地分析几乎任何基体中的元素，从钠（Na）到铀（U），包括固体、合金、粉末、液体、浆料和薄膜。

产品优势

具有智能手机界面的直观软件

Rigaku提供的硬化高分辨率触摸显示屏，薄膜键盘和落后的显示屏现已成为过去。操作NEX QC系列元素分析仪给人以熟悉的感觉，可用手指选择的图标能够引导用户完成常规分析操作。智能手机界面技术降低了拥有成本，因为它简化了操作员培训并减少了操作员出错的可能性。

硅漂移检波器技术

硅漂移检波器(SDD)可实现极高的计数率，并具有出色的光谱分辨率。这使NEX QC+能够在尽可能短的测量时间内提供最高精度的分析结果。SDD独特的工程特征是一系列环形电极生成的模截场，它会迫使电荷载体“漂移”到一个小集电极处。电流生成SDD检波器将场效应晶体管(FET)移动到辐射轨迹外，代表了传统EDXRF检波器技术的最尖端水平。

计算敏捷性

除了具有极强的易用性外，每个RigakuNEX QC系列元素分析仪还有运行在嵌入式计算机上的精密软件为其提供支持。经验校准曲线可以是线性、二次或双曲线拟合。此外，为了补偿其他元素的存在，还可以启用基于强度或浓度的阿尔法(α)校正（在有足够的标准样时自动计算）。还提供有C/H校正，以补偿轻元素矩阵变化和/或平均原子数变化。所有的校准功能都可以通过用手指触摸直观的图标进行访问。提供可选的基本参数(FP)包。

X射线光学器件

NEX QC系列采用50kVX射线管和帕尔贴制冷的半导体检测器技术，可提供卓越的短期重复性和长期重复性，具有优异的元素峰分辨率。高电压，以及多个自动X射线管过滤器，提供了多元素分析能力，实现无与伦比的性能与最小检测量(LOD)。光学器件由无需工具便可更换的安全膜保护。

X射线管的保护

通过仅在数据收集过程中操作，将X射线管的磨损减到最低—从而降低运营成本。

基本参数选项

显著减少了实施高质量校准所需的标准样数量；这在难以获得标准样或者许多元素独立变化的复杂基质情况下特别有用。

内置打印机

热敏打印机可以在您需要时随时随地提供快速的打印分析结果。

免工具安全膜

不需要使用工具便可更换安全膜，从而保护了光学内核并简化和加快了更换过程。

可拆卸的样品盘

可预先加载以及调入和调出可互换的选配自动进样器托盘，以提高效率或在吞吐量是重要考量的情况下使用。支持32mm和40mm杯。

单一位置或自动进样器

标准的单一位置配置可以添加一个选配的自动进样器。

工作原理

在X射线荧光法(XRF)中，X射线管吸收光（光子）会使电子从其原子轨道中射出。光子的能量(hν)必须大于电子与原子核结合的能量。当内轨道电子从原子中射出时（中间图像），更高能级轨道的电子会进行转移以填补空出的轨道。转移过程中可能会射出光子（右侧图像）。由于特定元素两个特定轨道壳之间的能量差始终相同，因此射出的光子始终具有相同的特征能量(keV)。对荧光发射谱线而言，给定元素单位时间光子数（每秒计数，简称cps）与样品中该元素的含量有关。通过测量规定时间内观测到的各种元素X射线荧光谱线所检测到的光子数（光谱峰数）来计算计数率。因此，定性和定量元素分析通过测定样品光谱中X射线峰的能量以及测量它们的相关计数率来实现。

应用行业

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