采用高性能的SDD检测器，确保硬件更佳化，具有业内闻名的高灵敏度·高速分析和高分辨率。可以检测出6C～的机型正式上线（EDX-8000/8100）。
① 高性能SDD检测器和较佳化光学系统组合，与以往机型和其它同价格带的竞争产品相比具有高灵敏度。
② 由于SDD检测器的计数率高，特别是对金属材料等主要元素产生X射线荧光较多的样品进行分析时，可大幅度缩短检测时间。
③ 能量分辨率提高，使得以前难以分离的毗邻元素峰值可以分离。
高灵敏度 –提高检测下限1.5～5倍
高性能的SDD检测器与更佳化的光学系统和一次滤光片的组合，实现业内闻名的高灵敏度。
从轻元素到重元素，全范围轻松应对。与采用传统Si（Li）半导体检测器的分析装置相比，灵敏度也更胜一筹。
高速 –分析速度最大可提高10倍
SDD检测器在单位时间内X射线荧光的计数率高，因此能够在更短的检测时间内进行高精度分析。特别是对金属材料的分析，这个特点可以得到更大限度的发挥。
X射线荧光分析可以通过延长测定时间增加X射线荧光的计数从而提高精度（重现性）。搭载高计数率SDD检测器的EDX-7000/8000/8100与以往型号相比，能够在更短的时间内保证分析精度。
满足分析精度所需的检测时间
高分辨率
与配置以往Si（Li）半导体检测器的型号相比，能量分辨率更胜一筹。不同元素峰值重叠的影响减小，提升可靠性。能量分辨率的比较（样品：PPS树脂）
① 下照射型的本机上配备可切换的10,5,3,1mmφ4种不同照射直径的准直器，灵活应对从大型样品到微小异物，从液体样品到粉末样品。
② 配备CCD样品观察装置，对微小样品进行观察或者使用微量样品容器时，可准确决定样品位置。另外，样品图像可以自动保存，用于分析报告中。
③ 配备5种一次滤光片，可应对更广的元素进行高灵敏度分析。
④ 真空及氦气置换检测单元，全方位应对轻元素的高灵敏度分析。
⑤ 配置样品转台，实现可自动连续测定。
SDD检测器为电子制冷方式，无需液氮冷却。不仅可以从繁琐的液氮补充作业中解放出来，更可以降低仪器的维护成本。
· 用EDX-7000/8100进行15P以下的轻元素分析时，需要真空检测单元或者氦气置换检测单元（均为选购件）。· 用EDX-8000进行15P以下的轻元素分析时，需要真空检测单元（选购件）。
EDX-8000/8100搭载的SDD检测器窗口采用极薄的薄膜特殊材料，能够检测碳（C）、氧（O）、氟（F）超轻元素。
满足分析精度所需的检测时间
用EDX-8100检测氟元素的分析结果
① 标准配备了PCEDX-Navi软件，画面浅显简单，可应对照射直径的选择和转台的设定，更可轻松启动仪器，具有X射线管的自我保护功能。
② 可以以Excel格式或HTML格式制作分析报告及数据报告，内置多种模板。
③ 专用选购件可以应对RoHS、无卤素的筛选分析。内置工作曲线，仪器管理更加简便。
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