涂层厚度测量方法有多种，根据不同的应用场景和测量要求，可以选择不同的测量方法。以下是一些常用的涂层厚度测量方法：
接触式测量法：接触式测量法是一种常见的涂层厚度测量方法，通过将磁性/涡流测厚仪的探头接触到被测涂层表面，测量涂层的厚度。接触式测量法适用于微米级别，常用的仪器有磁性测厚仪、涡流测厚仪、刮痕破坏式测厚计等。
非接触式测量法：非接触式测量法是一种不接触被测物体表面的测量方法，可以避免测量误差和对被测物体表面造成损伤。常用的非接触式测量法有ATO法。其中，ATO法是应用广泛的一种非接触式测量法，适用范围广，可以测量微米到毫米级别的涂层。
聚焦超声测量法：聚焦超声测量法是一种无损涂层厚度测量方法，可以实现亚毫米级别的测量精度。该方法利用超声波在涂层和基材之间反射的原理，可以测量各种涂层材料的厚度，包括金属、非金属和复合材料等。但一般需要涂耦合剂，测量范围较窄。
微型X射线荧光光谱分析：微型X射线荧光光谱分析是一种非破坏性的涂层厚度测量方法，可以实现微米级别的测量精度。该方法适用于测量金属、非金属和复合材料等各种涂层材料的厚度。
总之，涂层厚度测量方法有多种，可以根据不同的应用场景和测量要求选择合适的测量方法。